櫻花黑臂圖

1. 紋身黑臂什麼含義

都是個人喜好，紋身哪有那麼多含義
多數黑臂都是為了遮蓋原來的紋身

2. 在近於垂直光軸的切面上確定軸性、光性

在正交偏光間盡量選一個一級灰或黑灰的欲測礦物切面，錐光鏡下觀察。

(1)確定軸性

圖1-3為一軸晶近於垂直光軸(小斜切光軸)切面的干涉圖，其特點是由偏離目鏡十字絲中心的黑十字和干涉色色圈組成(色圈有時不見)。轉動物台黑十字交點即光軸出露點(C)，環繞目鏡十字絲做圓周運動。

圖1-3 一軸晶近⊥C切面干涉圖

圖1-4為二軸晶小斜交切面的干涉圖，由一黑臂和卵形色環組成(色環可不見)，光軸不通過十字絲，轉動物台，黑臂時直時彎。

圖1-4 二軸晶小斜切面干涉圖

(2)測定光性符號

一軸晶測定光性符號時首先確定象限和N_e′、N_o方位，如圖1-3中Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ為四個象限(以黑十字劃分)，其中N_e′方位為放射線方向，而N_o方位為切線方向。

根據一軸晶礦物N_e＞N_o為正光性，N_e＜N_o為 負光性的原則。在確定象限後，插入石膏檢板(λ)，檢板長方向為短半徑，注意觀察黑十字附近干涉色(一級灰)的變化，若Ⅰ，Ⅲ象限變藍(升高)，Ⅱ，Ⅳ象限變黃(降低)，表明放射線方向N_e′=N_g(長半徑)而切線方向N_o=N_p(短半徑)，如圖1-5所示，該礦物為正光性，否則相反。

二軸晶測定光性符號時，首先需搞清在干涉圖中光率體要素的方位：如圖1-4 的45°位，黑臂彎曲的凹區稱鈍角區，凸區稱銳角區，彎曲黑臂切線的垂直方向總體為光軸面(AP)方向，該方向在鈍角區內為Bxa投影方向，在銳角區為Bxo投影方向；垂直光軸面(AP)的方向無論銳角區、鈍角區永遠為N_m方向。

根據二軸晶Bxa=N_g(或Bxo=N_p)為正光性，Bxa=N_p(或Bxo=N_g)為負光性，以及N_g＞N_m＞N_p的原則。在45°位置上插入石膏檢板(振動方向如圖1-6所示)觀察彎曲黑臂兩側干涉色(一級灰)變化情況，如圖所示銳角區變黃(降低)，而鈍角區變藍(升高)，表明Bxa=N_g、Bxo=N_p，該礦物為正光性。

3. 半年前和朋友打賭為了面子去紋了一個黑臂，現在越看越丑，顏色很深，時間長了會淡嗎或者能洗掉嗎

不會，激光不僅疼，效果也不會很好，你可以搜索一下去紋身後的圖片

4. 貴橄欖石（橄欖石）Chrysolite

(Mg,Fe)₂[SiO₄］

斜方晶系

N_g=1.690～1.731

N_m=1.671～1.715

N_p=1.655～1.692

N_g-N_p=0.035～0.039

（±）2V=(+)88°～（－)83°r<（v正光性）或r>（v負光性）

a‖N_g,b‖N_p,c‖N_m，光軸面‖（001）

化學組成 一般所說的橄欖石是指貴橄欖石，它是鎂橄欖石和鐵橄欖石的類質同象中間變種，成分中鎂橄欖石分子（Fo）超過鐵橄欖石分子（Fa）。MgO可達40%～50%,FeO8%～12%，少數達20%，有時尚含NiO,Mn O,C₂O₃,TiO₂等雜質。

結晶特點 晶體沿c軸呈短柱狀，集合體為粒狀，作為火山岩和煌斑岩的斑晶往往呈完好的自形晶，縱切面呈兩端尖銳的長六邊形（照片412,413），其上常見斷續的｛010｝解理縫（照片414），橫切面近菱形（也可見解理縫），因此當斑晶經過熔蝕則出現雙凸透鏡狀輪廓，其形態較特徵。侵入岩中多為不規則等向粒狀。常具環帶構造，核部富鎂，邊部富鐵，環帶不同部位的雙折射率和光軸角有所不同。常具反應邊結構，中心為橄欖石，邊部被斜方輝石、單斜輝石、普通角閃石、黑雲母等環繞。幔源岩中的地幔包體或捕虜晶中的貴橄欖石亦可見狀似雙晶的「肯克帶」（照片416）。｛010｝解理不完全，裂紋發育。

光性特徵 橄欖綠色，遭蝕變而呈黃、褐或紅色，薄片中無色，正高突起，干涉色二級頂至三級底（照片413,415）。平行消光，由於c‖N_m，延性可正可負。雙晶少見。光性符號和光軸角與含鐵量有關，含鐵較少者為正光性，光軸角大，隨鐵含量增加，光軸角達90°，隨後，光軸角減少至83°，且變為負光性。因光軸角始終近於90°，故在垂直光軸干涉圖中黑臂近似直臂。

變化 橄欖石性質不穩定，最易蝕變成蛇紋石，並伴隨析出磁鐵礦，往往沿裂縫或邊緣開始蝕變，形成網狀（照片417），直至被蛇紋石與磁鐵礦混合物所取代，保留假象。此外，還可變為透閃石、黑雲母、滑石（照片418,419,427）、碳酸鹽礦物（照片425,426,427）。在火山岩或某些淺成岩中，橄欖石常變為伊丁石（照片419,420,421）和皂石（照片421,422, 423），有時也常變為綠鱗石或蒙脫石（微高嶺石）－綠泥石的集合體（照片425）。（蒙脫石－綠泥石集合體為綠色或無色，弱多色性，二級干涉色，平行消光，正或負低突起，表現出綠泥石和蒙脫石之間的光性。根據突起，顏色可與綠鱗石區別）。

鑒別特徵 橄欖石與斜方輝石有時易混淆，區別在於橄欖石雙折射率高、解理不發育而裂紋發育、延性可正可負，而斜方輝石具輝石式解理、干涉色低（一級）、正延性。與普通輝石、透輝石、斜頑輝石區別是後三者均具輝石式解理、干涉色低於橄欖石、斜消光、光軸角較小（中等）。此外，若能找到⊥Bxa切面（對橄欖石來說，一般干涉色為一級頂左右），錐光下觀察其⊥Bxa干涉圖（也可近於⊥Bxa），找出圖中二光軸點連線方向（因為橄欖石光軸角大，轉動物台，二光軸會很快移出視域外，因此要注意跑出方向為二光軸連線方向）即光軸面方向，此時勿動物台，將錐光系統去掉，觀察所測礦物的解理縫方向與光軸面方向（二光軸點連線）之間的關系，若二者垂直，則為橄欖石（參看圖4-122），若二者平行則為普通輝石、透輝石或紫蘇輝石（參看圖4-135、133、128）。與綠簾石有時也容易相混，區別是綠簾石常顯彩色異常干涉色、具有較好的解理、無蛇紋石蝕變。硅鎂石常具無色—淡黃色的多色性、折射率、雙折射率及光軸角均較橄欖石小。

產狀及其他 橄欖石主要產於SiO₂不飽和的鎂鐵－超鎂鐵質岩中，如輝長岩、蘇長岩、橄欖岩、玄武岩、苦橄岩、碧玄岩、玻基輝橄岩、金伯利岩，也產於榴輝岩中。一般不和石英同時出現，但在石英玄武岩中曾發現橄欖石斑晶。在有方英石或鱗石英的熔岩空洞內也見到橄欖石。它也是石隕石的主要組分之一，同輝石、金剛石、石墨、鹼性長石、鈦鐵礦、磷灰石、尖晶石、鉻鐵礦、金紅石、磷鈣鐵錳礦等一起產出。橄欖石還可產於某些煌斑岩、鹼性岩及結晶灰岩、白雲岩中。

5. 鎂橄欖石 Forsterite

Mg2
[SiO4］
斜方晶系
Ng=1.670～1.690
Nm=1.651～1.671
Np=1.635～1.655
Ng-Np=0.030～0.045
(+)2V=86°～88°r>v
a‖Ng,b‖Np,c‖Nm，
光軸
面‖（001）
圖4-122
鎂橄欖石
光性方位
化學組成
成分中可含
Fe2
[SiO4］分子（Fa)0～10%。此外，還可含少量
Na2O
,
K2O
和
Al2O3
等。
結晶特點
晶體呈短柱狀或不規則粒狀（照片409），有的呈平行（100）厚板狀或沿c軸的長柱狀（照片410,411）。自形晶體的兩端成銳角，薄片中則表現為兩端尖銳的
六邊形
。｛010｝
解理
不完全，裂紋發育。
光性特徵
橄欖綠
、淺黃綠、無色或白、淡黃色，薄片中無色。正高突起，
干涉色
高，二級中至三級中（照片409,411），
平行消光
，由於c‖Nm，
延性
可
正可
負。
地幔岩
中鎂橄欖石常見貌似
雙晶
的「肯克帶」。鎂橄欖石為
二軸晶
正光性，
光軸角
近於90°，故在垂直光軸
干涉圖
中黑臂近似直臂。
變化
經過熱液蝕變、
低級變質作用
或
風化作用
，鎂橄欖石經常變為
蛇紋石
（
葉蛇紋石
或
纖蛇紋石
照片411），但不像
貴橄欖石
那樣析出
磁鐵礦
。此外，還經常蝕變成滑石、
碳酸鹽礦物
和
硅鎂石
（照片424）等。蝕變礦物首先沿鎂橄欖石的邊緣和裂紋進行（照片411），進而全部交代並呈橄欖石假象。
鑒別特徵
鎂橄欖石較其他橄欖石折射率低為其特徵。此外，其光性總是正，而其他橄欖石變種絕大多數為負光性。鎂橄欖石與硅鎂石都可能在富鎂的接觸變質
白雲岩
中見到，且二者相似，其區別是硅鎂石的光軸角（68°）小於鎂橄欖石、某些硅鎂石具有黃色
多色性
，而鎂橄欖石無。此外，
粒硅鎂石
和斜硅鎂石為
斜消光
，常見
聚片雙晶
。鎂橄欖石與無色的單斜
輝石
可根據輝石具輝石式解理、斜消光、光軸角多為中等加以區別。與
斜方輝石
的區別，除解理特徵外，斜方輝石的干涉色低於鎂橄欖石。
產狀
及其他
鎂橄欖石主要產於接觸變質白雲岩和白雲質
大理岩
中，常與粒硅鎂石、
透輝石
、
金雲母
共生。在
金伯利岩
、
純橄欖岩
、斜方輝橄岩和
幔源
岩
包體
中見富鎂質橄欖石，其Fo含量為90%～92%。
共生礦物
有
尖晶石
、金雲母、輝石等。也見於隕石中。鎂橄欖石是某些
耐火磚
的主要成分。

6. 日本櫻花女鬼紋身大臂，跪求這個圖

我好像有這個圖的稿子。

7. 在二軸晶垂直光軸切面干涉圖上目估2V

該切面在正交偏光間特點應全消光，實際上一般達不到，只要找到一個一版級暗灰且轉動物台干涉色權不變化的預測礦物切面即可。

目估是在45°位置干涉圖中，根據黑臂彎曲程度確定，圖1-7為黑臂彎曲程度與2V關系目估圖。當黑臂為一直臂時，2V=90°，黑臂彎曲顯著，近於90°時2V≈0°。

圖1-5 光性符號測定

圖1-6 光性符號測定

圖1-7 2V角的目估

8. 紋滿一條黑臂要多少錢

紋身的價格視乎紋刺顏料，紋刺面積，紋刺圖案復雜程度，紋刺部位而定，你說的纏版蛇，是指圍繞著權手臂的蛇紋圖案吧？屬不屬於很復雜的圖呢？希望紋刺效果長久還是短暫的？要是做比較長時間都能保持的圖案的話，那樣大的面積，在南寧價格是100到300元左右，而在昆明的幾家頗有名氣的紋刺工作穿撫扁幌壯呵憋童鉑闊室製作的話，價格是兩倍多了.

9. 一軸晶干涉圖及光性正負的測定

一軸晶礦物的干涉圖（Uniaxial interference figure），因切面方向不同而異，有三種主要類型，即垂直光軸切面、斜交光軸切面及平行光軸切面的干涉圖。

一、垂直光軸切面的干涉圖

該切片在單偏光鏡下無多色性，正交偏光鏡下干涉色最低，為全消光，在錐光鏡下出現具有如下特點的干涉圖。

1.圖像特點

由一個黑十字或黑十字和同心圓干涉色色圈組成（圖6-4；圖版Ⅱ-1，Ⅱ-3）。

（1）黑十字由互相垂直的兩個黑臂（也稱消光影）組成。兩黑臂分別平行上、下偏光鏡振動方向AA、PP。黑十字交點為光軸出露點，位於視域中心，黑十字從中心向外呈現內窄外寬。

圖6-4 一軸晶垂直光軸切面干涉圖

（2）旋轉物台360°，干涉圖的圖像不變。

（3）光程差（R）必須超過550 nm才能產生干涉色色圈。干涉色色圈的有無或多少取決於礦物的雙折射率的大小和礦片的厚度。一般礦片厚度一定（如標准厚度d=0.03 mm），當雙折射率較小時，僅有黑十字，而無色圈，四個象限為Ⅰ級灰的干涉色，如石英，它的N_e=1.553、N_o=1.544、ΔN_max=0.009，據光程差公式R=d（N₁-N₂）=0.03 mm×0.009=270 nm，R=270 nm，呈I級灰白的干涉色，因為Ⅰ級干涉色頂部為紫紅色（R=550 nm），所以看不到干涉色色圈，只見一個黑十字。當雙折射率較大時，不僅有黑十字，而且有同心圓狀的干涉色色圈，從黑十字中心向邊緣，干涉色級序逐漸升高，色圈變密，如方解石，它的N_e=1.486、N_o=1.658、ΔN_max=0.172，據光程差公式R=0.03 mm×0.172=5160 nm，因此具有相當於IX級以上的干涉色，故能見到同心圓狀的干涉色色圈和黑十字。

2.成因

在垂直光軸的切面中，光軸是位於切面中央的。當錐形偏光入射時，除中央一束光波平行光軸入射外，其餘光波均傾斜礦片入射，所以除中央以外其他部分均要發生雙折射，其光率體切面為橢圓。

一軸晶光率體各個橢圓切面半徑在空間的分布方位，可用星射球面投影獲得。具體作法是把一軸晶光率體外套上一個圓球體，使圓球體中心與光率體中心重合（圖6-5）。

圖6-5 一軸晶常光和非常光振動方向在球面上的分布方位

圖6-6 一軸晶垂直光軸切面的波向圖

把垂直各個方向入射光波的光率體橢圓切面半徑（N_e′、N_e和N_o）投影到球面上，得出各個橢圓切面半徑（常光和非常光的振動方向）在球面上的分布方位。球面上經線與緯線的交點，代表各個入射光波在球面上的出露點；經線的切線方向，代表光率體橢圓半徑N_e′和N_e的投影方向，即非常光的振動方向；緯線的切線方向，代表光率體橢圓半徑N_o的投影方向，即常光的振動方向。

把球面投影結果，用正射投影的方法，投影到平面上，即可得出一軸晶不同方向切面上光率體橢圓半徑（常光與非常光）的分布方點陣圖，稱波向圖。一軸晶垂直光軸切面的波向圖（圖6-6），具有三個特點：①其中心為光軸在礦片平面上的出露點；②圍繞中心的同心圓與放射線的各個交點，代表錐形光束各個入射光波在礦片平面上的出露點；③放射線（或半徑）方向，代表光率體橢圓半徑N_e′的方向（因為非常光的振動方向包含在入射線與光軸組成的主平面內），同心圓的切線方向，代表光率體橢圓半徑N_o的方向（常光振動方向）（圖6-7）。

（1）黑十字的成因

根據正交偏光間的消光與干涉原理：礦片上光率體橢圓半徑與上、下偏光鏡振動方向（AA、PP）平行的部位，消光而構成黑臂；礦片上光率體橢圓半徑與上、下偏光鏡振動方向（AA、PP）斜交的部位，發生干涉作用，產生干涉色。

在垂直光軸切面的波向圖（圖6-7）中，因東西、南北方向上的光率體橢圓半徑與上、下偏光鏡的振動方向（AA、PP）平行或近於平行，故在正交偏光間消光或近於消光，形成與AA、PP平行的兩條黑帶，二者互相垂直構成黑十字。黑十字代表消光部分（消光影）。由於光率體橢圓半徑N_e′的方向呈放射線，與AA、PP夾角相等的部位消光效應相同，因而黑帶中部較窄而邊部較寬。

（2）干涉色色圈的成因

圖6-7 一軸晶垂直光軸切面的黑十字成因

黑十字把視域分隔成四個象限（圖6-8），從右上方開始按逆時針方向分為Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ象限。因礦片光率體長短半徑的振動方向與上、下偏光鏡的振動方向斜交，故不消光，而產生干涉色。根據光程差公式R=d（N_g-N_p）可知，因為入射光波為錐形光，由中心向外，入射光波與光軸的夾角逐漸增大，雙折率也逐漸增大，同時光波通過礦片的厚度距離也是越外越大，故光程差由內向外相應逐漸增加。其中與光軸夾角相等的各入射光，光程差大小相等，由此形成同心環狀干涉色色圈（圖6-9），干涉色色圈代表發生干涉作用的部分，且干涉色級序越外越高。

3.垂直光軸切面干涉圖的應用

（1）確定軸性和切面方向

根據干涉圖的圖像特點，可以確定為一軸晶垂直光軸的切面。

（2）光性符號的測定

一軸晶光性符號正負的確定應依據兩個原則：①N_e＞N_o，為一軸正晶（N_e=N_g）；N_e＜N_o，為一軸負晶（N_e=N_p）。②放射線方向代表N_e′方向，同心圓切線方向代表N_o方向（圖6-10）。一軸晶礦物的光性符號是根據N_e和N_o的相對大小來決定的。

在干涉圖中N_e′與N_o的方向為已知，故只要插入補色器，測定出N_e′與N_o相對大小，即可求得光性的正負。測定時首先應認清象限內干涉色的級序，然後加入補色器，根據補色法則——同名半徑平行干涉色升高，異名半徑平行干涉色降低的原理（圖6-11），就可測出光性的正負。現以石英垂直光軸的切面干涉圖為例加以說明，圖6-12A，近光軸處的色圈呈Ⅰ級灰白，從Ⅱ、Ⅳ象限加入石膏試板，結果Ⅰ、Ⅲ象限干涉色升高呈Ⅱ級藍色（R=150+550=700 nm），Ⅱ、Ⅳ象限干涉色降低呈Ⅰ級橙黃（R=550-150=400 nm；圖版Ⅱ-2），證明試板的N_g與礦片的N_e平行，試板的N_p與礦片的N_o平行，故N_e＞N_o，為正光性。而方解石垂直OA切面干涉圖中黑十字劃分的四個象限內的干涉色級序的升降變化如Ⅱ、Ⅳ象限升高，Ⅰ、Ⅲ象限降低則為負光性（圖6-12B；圖版Ⅱ-4）。

在色圈多的干涉圖中。加入雲母試板後（圖6-13），黑十字為Ⅰ級灰白。因為雲母試板可使干涉色升降一個色序。在干涉色升高的兩個象限內（圖6-13A中的Ⅰ、Ⅲ象限）色圈向內移動一個色序，靠近黑十字交點，原為Ⅰ級灰的地方，干涉色升高變為Ⅰ級黃色；原來為Ⅰ級黃的色圈，干涉色升高變為Ⅰ級紅，顯示出紅色色圈向內移動占據黃色色圈的位置；Ⅰ級紅的色圈變為Ⅱ級藍（即Ⅱ級藍色色圈向內移動占據紅色色圈的位置），同理，每一色圈的干涉色都升高一個色序，因此顯示出整個色圈均向內移動。

圖6-9 一軸晶⊥OA切面干涉色色圈的成因

圖6-8 黑十字劃分的四個象限

圖6-10 一軸晶⊥OA切面干涉圖N_e′和N_o的方向

在干涉色降低的兩個象限內（圖6-13 B中Ⅱ、Ⅳ象限）色圈向外移動一個色序，靠近黑十字交點原為Ⅰ級灰的地方，干涉色降低變為黑色；原為Ⅰ級黃的色圈，變為Ⅰ級灰，顯示出向外移動。同理，每色圈都降低一個色序，因而顯示整個色圈向外移動。

如果幹涉色色圈多而密，加入雲母試板後，色圈移動情況看不清楚，則可使用石英楔，隨著石英楔的慢慢插入，在干涉色升高的兩個象限內，干涉色色圈連續向內移動，在干涉色降低的兩個象限內，干涉色色圈連續向外移動。

圖6-11 一軸晶礦物光性符號的測定

圖6-12 干涉色為Ⅰ級灰的干涉圖加入石膏試板後，升高變藍，降低變黃

圖6-13 干涉色色圈多的干涉圖加雲母試板後，升高色圈內移（A），降低色圈外移（B）

二、斜交光軸切片的干涉圖

（一）圖像特點

一軸晶斜交光軸的干涉圖比較常見，斜交光軸的干涉圖是由於光軸與顯微鏡軸不平行造成的。它的圖像特點是光軸出露點不在視域中心，因此出現的是黑十字的一部分與不完整的干涉色色圈。根據光軸（c軸）與切片法線夾角大小，可分為小斜切片和大斜切片干涉圖。

1.小斜切片干涉圖

黑十字交點（光軸出露點）不在視域中心，但仍在視域內可見（圖6-14）。旋轉物台時，黑十字交點繞視域中心作圓周運動，其黑臂則作上下、左右平行移動，干涉色色圈隨黑十字交點移動。

2.大斜切片干涉圖

當黑十字交點（光軸出露點）在視域外時（圖6-15），視域內只見一條黑臂及部分干涉色色圈，轉動物台，黑臂作上下、左右平行移動，並交替出現在視域內，干涉色色圈亦隨之移動（圖6-15）。當斜切交角很大時，黑臂變得相對模糊，轉動物台黑臂呈彎曲狀掃過視域（圖6-16），與二軸晶任意切面干涉圖不易區分，因此這種圖不能用來判斷軸性。

圖6-14 一軸晶斜交光軸切面干涉圖（光軸傾角較小）轉動物台時黑帶的移動規律

圖6-15 斜交光軸切面干涉圖（光軸傾角較大），轉動物台時黑帶的移動規律

圖6-16 一軸晶斜交光軸切面的干涉圖（光軸傾角很大）

（二）斜交光軸切面干涉圖的應用

1.當光軸傾角不很大時，可以確定軸性及切面方向

2.測定光性符號

當黑十字交點在視域內時，測定光性符號的方法與垂直光軸切面干涉圖的方法相同。

如果黑十字交點在視域之外時，轉動載物台：

（1）確定象限：黑十字把視域劃分成四個象限，一般從右上方按逆時針方向給予命名為Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ象限。判斷斜交光軸切面干涉圖的象限名稱主要根據四種現象：①黑帶細的部分指向光軸出露點。②等色圈凹向光軸出露點。③當黑帶處於圖6-15各種位置時，順時針旋轉載物台，凡是橫向黑帶向下移後視域內必為Ⅱ象限（圖6-15Ⅰ），向上移動後則為Ⅳ象限（圖6-15Ⅲ）；凡見縱向黑帶向左移後必為Ⅰ象限（圖6-15Ⅱ），向右移後則為Ⅲ象限（圖6-15Ⅳ）。④順時針轉動載物台，黑帶的一端移動與物台轉動方向相同稱為順端，該順端永遠靠近光軸出露點，根據光軸出露點的位置便可確定象限（圖6-15）。

（2）確定N_o，N_e′方向：只有象限名稱確定後，才能推斷N_e和N_o的振動方向。

放射線的方向——代表N_e′的方向；

同心圓切線的方向——代表N_o的方向（圖6-10）。

（3）判斷光性正負：N_e＞N_o為一軸晶正光性，N_e＜N_o為一軸晶負光性。選用石膏試板或雲母試板插入後，觀察Ⅰ、Ⅲ象限和Ⅱ、Ⅳ象限干涉色升降變化，應用補色法則判斷平行試板長邊方向，即干涉圖半徑方向的N_e是N_g還是N_p，便可定出它是正光性還是負光性（圖6-17）。

圖6-17 一軸晶斜交光軸切面干涉圖上光性符號的測定

三、平行光軸切面的干涉圖

平行光軸切面具有最大雙折射率ΔN_max=｜N_e-N_o｜，因而在正交偏光鏡下呈現最高的干涉色，在單偏光鏡下，當N_e與下偏光振動方向平行時，可以測得N_e的折射率和顏色；當N_o與下偏光振動方向平行時，可以測得N_o的折射率和顏色；當光軸位於上下偏光的45°位置時，可以在正交偏光或錐光系統下測得光性正負。

1.圖像特點

（1）當光軸與上、下偏光鏡振動方向之一平行時，為一個粗大模糊的黑十字，幾乎占據整個視域（圖6-18，圖6-19A）。

圖6-18 一軸晶平行光軸切面的干涉圖（上部為干涉圖，下部為立體圖）

圖6-19 一軸晶平行光軸切面的干涉圖

（2）旋轉載物台12°～15°，粗大黑十字從中心分裂，並沿光軸方向迅速退出視域，因為變化迅速，故稱為閃圖或瞬變干涉圖。

（3）旋轉載物台使光軸方向與上、下偏光鏡振動方向成45°位置時，視域最亮。如果礦物的雙折率較大，視域內則出現對稱的弧形干涉色色帶（圖6-19B）。在光軸方向上，干涉色級序由中心向相對兩個象限逐漸降低；在垂直光軸的方向上，干涉色級序從中心向相對兩個象限逐漸升高。如果礦物雙折率較低，則不出現弧形干涉色帶，整個視域為Ⅰ級灰白乾涉色。

2.成因

在平行光軸切面的波向圖（圖6-20）中，當光軸與下、上偏光鏡振動方向之一平行時，絕大部分光率體橢圓半徑與上、下偏光鏡振動方向平行或近於平行（小圓內），根據消光、干涉原理，在正交偏光鏡下呈消光或近於消光，形成粗大黑十字。稍轉載物台一個小角度，大部分光率體橢圓半徑與上、下偏光鏡振動方向斜交，特別是視域中心的光率體橢圓半徑首先與上、下偏光鏡振動方向斜交，因此粗大黑十字首先從中心分裂，並沿光軸方向迅速退出視域，視域變亮。當光軸與上、下偏光振動方向成45°位置時，大部分光率體橢圓半徑也與上、下偏光振動方向成45°角，此時，視域最明亮，出現干涉色。如果礦物的雙折率較大，在光軸方向上由中心向兩邊，光率體橢圓切面短半徑N_o不變，而長半徑N_e′逐漸變短（圖6-21），因而雙折率逐漸變小。又因礦片厚度小，視域較小，礦片厚度向外的加大不足以抵消雙折率的影響。因此，光軸方向上由中心向兩邊的光程差逐漸減小，相應的干涉色級序逐漸降低。在垂直光軸的方向上，由中心向兩邊，光率體橢圓切面半徑N_e、N_o不變（圖6-21），雙折率相等。但因礦片厚度向外的增大而引起光程差向外的增大，相應的干涉色級序由中心向兩邊逐漸升高。

3.光性符號的測定

粗大黑十字分裂退出視域的方向，即是光軸方向，使光軸方向與上、下偏光振動方向成45 °位置，插入石膏試板或雲母試板，檢查光軸方向N_e是N_g還是N_p，即可測定光性符號的正負（圖6-22）。然而一軸晶閃圖形態與二軸晶⊥Bxo切面的干涉圖、∥AP切面的干涉圖很難區分，所以一般不用來測定光性符號正負。但常用其來尋找平行光軸的切面方向，測定N_e和N_o的顏色、主折射率、最大雙折率及最高幹涉色級序。

圖6-20 一軸晶平行光軸切面的波向圖

圖6-21A 一軸晶正光性晶體平行光軸切面在0°位置時光率體橢圓長、短半徑及雙折率大小變化示意圖

圖6 21B 一軸晶正光性晶體平行光軸切面在45°位置時光率體橢圓長、短半徑及雙折率大小變化示意圖

圖6-22 一軸晶平行光軸切面干涉圖中光性符號的測定

10. 兩只手手都有紋身，一邊是黑臂😩 去澳大利亞好去嗎聽朋友說過關的時候會不讓上機，求

沒有的事情，在這邊紋身被人認為是藝術，不像國內，覺得紋了身專就不是好人，屬總是帶著歧視性的眼光看。在澳洲大街上身上帶有紋身的人很常見，你要是去海邊看看，帥氣的小伙、女孩很多也都有漂亮的紋身。出入境對這方面沒有要求，更不可能因為你紋了身就不讓你上飛機，開什麼玩笑！所以盡管放心就是